Phản xạ toàn phần của nowtron phân cực trên mặt tinh thể phân cực khi có nhiễu xạ bề mặt

Authors: Nguyễn Đình Dũng

Ứng suất dư tồn tại trong chi tiết, phát sinh trong quá trình gia công nhiệt, gia công cơ hoặc quá trình luyện thép, là nguyên nhân gây biến dạng hoặc phá hủy chi tiết. Do đó, xác định ứng suất dư đóng vai trò quan trọng trong quá trình xử lý và cải thiện điều kiện làm việc của chi tiết.
Ngày nay, các phương pháp đo lường ứng suất không phá hủy được nghiên cứu và ứng dụng ngày càng nhiều. Trong đó, phương pháp nhiễu xạ X quang được sử dụng phổ biến với ưu điểm rõ rệt: xác định chính xác ứng suất dư và dễ dàng tự động hóa...

Title: Phản xạ toàn phần của nowtron phân cực trên mặt tinh thể phân cực khi có nhiễu xạ bề mặt
Authors: Nguyễn Đình Dũng
Keywords: nowtron phân cực
Issue Date: 1994
Publisher: H. : ĐHQGHN
Series/Report no.: số 1 , 1994;
Description: tr. 23-25
URI: http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/60007
Appears in Collections:Natural Sciences and Technology

Nhận xét

Bài đăng phổ biến từ blog này